深圳智成電子有限公司（以下簡稱智成電子）詳細分析貼片電容容量偏低的原因及貼片電容容量偏低的解決措施。

貼片電容容量偏低的原因

1、測試條件會讓測量結果的影響.我們首先在決定有什么設備測量，針對針對不同容值的貼片電容會選擇不同的測試條件來測量容值，主要在檢測電壓的設定和檢測頻率的設定上有區別。

2、影響高容電容容值測量偏低的要素。智成電子會因為不同的測試設備之間的內部阻抗都不同，導致儀器將總電壓分壓進而加進檢測電容兩端的實際電壓縮小。在具體的測試過程中，我們有必要先使用萬用表等工具測試夾具兩端的實際電壓，來確認加進檢測貼片電容兩端的輸出電壓。

3、測量自然條件對測量結果的影響，溫度比較高的前提下,電容容值的檢測值便會顯的稍低。一般提議放置于20℃的環境中一段時間，下再進行容值檢測

4、測試設備的原因，加進電容兩邊具體的輸出電壓與設置的測量電壓(理想電壓）事實上可能會有所出入。

貼片電容容量偏低的解決措施

1、量測儀器差別對量測結果的影響對策：智成電子在測量電容容值時把儀器校準并把儀器的設定電壓和實際加在商品兩邊所測電壓盡量調節,使具體載入在待測物上的電壓和輸出電壓一致。

2、測試條件對量測結果的影響的對策：針對不同容值的電容會選擇不同的檢測電壓和檢測頻率來量測其容值。

3、量測自然條件對量測結果的影響的解決措施：把產品放置于20℃的環境中一段時間,使材料在較穩定的測試環境下再進行測試。

4、MLCC產品材料老化情況的解決措施：高溫烤制：將檢測容積偏低的商品放置于工作溫度為：150℃環境下烤制1hour。智成電子在常溫25℃下擺放24小時，再行檢測，容值將恢復到正常規格范圍內；

或者把檢測容積偏低的商品浸至錫爐或過回流焊后，再進行測試，容值將恢復到正常規格范圍內。

智成電子總結通過上述對貼片電容容積偏低的原因展開分析可知，在檢測時發生的電容容量稍低可能是內在因素即電容材料自身特點造成的，也可能是外在因素即測試設備、測試環境、測試方法等因素造成的，因此在具體使用中，針對保證由于以上要素造成的容積偏低的商品，在生產流程中沒必要在發布前進行容值修復動作，只需將部件置于板上正常生產作業，商品經過回流焊或波峰焊后，即可恢復過來容值。

以上就是本文的全部內容，主要介紹了貼片電容容量偏低的原因及貼片電容容量偏低的解決措施，如需要采購TDK和村田高品質貼片電容，歡迎來電咨詢13510639094微信同號。